Schichtdickenmessung
Um die Qualität unserer Beschichtungen zu gewährleisten werden die Schichtstärken mit dem kontaktlosen und zerstörungsfreien Röntgenfluoreszen (X-Ray) Verfahren überprüft. Auch hierbei sind wir einen Schritt weiter gegangen und haben in eine hochwertigeren Detektor investiert, durch welche wir in der Lage sind auch extermst dünne Schichten <0,05 µm zu messen. Daurch sind wir in der Lage unsere Prozesse genauer zu steuern und Recorssen einzusparen. Duch den Dabei erfolgt die X-Ray Messung durch die Verwendung von Röntgenstrahlen. Dabei wird das Bauteil mit einer Beschichtung auf den programmierbaren, vollautomatischen Messtisch gelegt, um eine waagerechte Lage sicherzustellen und die Röntgenquelle auf das Bauteil justiert. Sobald die Messung gestartet wird wird von der Röntgenröhre eine energiereiche Primärstrahlung gesendet. Diese trifft auf das zu messende Bauteil und löst bei Atomen ein Elektron aus der kleinsten Umlaufbahn (K Schale). Diese fehlende Elektron wird von einem der Elektron der anliegenden Umlaufbahnen aufgefüllt wodruch eine Fluoreszenstrahlung ausgesendet wird. Durch Energiedichte dieser Strahlung kann auf ein Element zurückgeschlossen werden. Dabei wird die Absorption der Röntgenstrahlen durch die Beschichtung gemessen und somit die Schichtdicke ermittelt. Das Ergebnis der Messung wird in Mikrometer angegeben. Die Schichtdickenmessung mittels Röntgenfluoreszen ist in der Norm DIN EN ISO 3497 festgelegt.
Präzise Schichtdickenmessung mit hochentwickelter Röntgenfluoreszenz-Technologie
Zur Gewährleistung der Qualität unserer Beschichtungen setzen wir auf die fortschrittliche und zerstörungsfreie Technologie der Röntgenfluoreszenz (XRF) zur Schichtdickenmessung. Unsere Investition in einen hochwertigen Detektor erlaubt es uns, selbst extrem dünne Schichten von weniger als 0,05 µm mit höchster Präzision zu messen. Dies ermöglicht eine verbesserte Prozesskontrolle und hilft uns, Ressourcen effizient einzusetzen.
Der XRF-Messprozess nutzt Röntgenstrahlen. Das beschichtete Bauteil wird auf unseren vollautomatischen, programmierbaren Messtisch platziert, um eine stabile Position zu gewährleisten, und die Röntgenquelle wird präzise auf das Bauteil ausgerichtet.
Beim Start der Messung sendet die Röntgenröhre eine energiereiche Primärstrahlung aus. Diese Strahlung trifft auf das Bauteil und löst bei den Atomen der Beschichtung ein Elektron aus der innersten Umlaufbahn (K-Schale). Dieses fehlende Elektron wird durch ein Elektron aus einer äußeren Umlaufbahn ersetzt, was eine Fluoreszenzstrahlung erzeugt. Aus der Energie dieser Strahlung lässt sich auf das jeweilige Element schließen. Die Schichtdicke wird dann durch die Messung der Absorption der Röntgenstrahlen durch die Beschichtung bestimmt.
Das Ergebnis der Messung wird in Mikrometern (µm) angegeben. Mit der Röntgenfluoreszenz-Methode sind wir in der Lage, die strikten Anforderungen der DIN EN ISO 3497 Norm zu erfüllen. Dank dieser fortgeschrittenen Technologie können wir Ihnen stets Beschichtungen von herausragender Qualität und Konsistenz bieten.